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Component Monitoring with Integrated Sensors

Autoren:van Thiel, B.; Nyhuis, P.
Kategorie:Konferenz (reviewed)
Jahr:2011
Veröffentlichung:in: 21st International Conference on Systems Engineering 2011. Piscataway, NJ, USA: Institute of Electrical and Electronics Engineers Standards Association, pp. 362-366
DOI:10.1109/ICSEng.2011.72
ISBN:978-1-4577-1078-0